一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱
基本信息
| 申请号 | CN202023140193.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214011018U | 公开（公告）日 | 2021-08-20 |
| 申请公布号 | CN214011018U | 申请公布日 | 2021-08-20 |
| 分类号 | G01N17/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 乔森 | 申请（专利权）人 | 森诺检测认证技术服务（深圳）有限公司 |
| 代理机构 | 南昌逸辰知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 刘林艳 |
| 地址 | 518000广东省深圳市龙华区大浪街道浪口工业园81号4层401室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供一种用于测试电子元件的UV紫外线老化试验箱，属于医疗器械技术领域，以解决现有的老化试验箱在对电子元件进行测试时，盛放电子元件的托盘一般放置在老化试验箱的靠内侧，在检测完成后，往外拿取装有电子元件的托盘不方便的问题，包括试验箱外壳；所述试验箱外壳转动连接有一组试验箱门；所述试验箱外壳内侧后方活动连接有一组推板；所述推板下方滑动连接有两组传动滑块；所述传动滑块滑动连接在试验箱外壳内部；所述试验箱外壳内部转动连接有一组传动轴；所述试验箱外壳内部转动连接有一组连接轴，本实用新型通过转动试验箱门，实现对托盘的推出，方便操作人员拿取，在推出托盘后，通过复位弹簧，实现推板的复位。 |
