一种用于测试电子元件的恒温恒湿试验装置
基本信息
| 申请号 | CN202023101061.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214011017U | 公开（公告）日 | 2021-08-20 |
| 申请公布号 | CN214011017U | 申请公布日 | 2021-08-20 |
| 分类号 | G01N17/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 乔森 | 申请（专利权）人 | 森诺检测认证技术服务（深圳）有限公司 |
| 代理机构 | 南昌逸辰知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 刘林艳 |
| 地址 | 518000广东省深圳市龙华区大浪街道浪口工业园81号4层401室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供一种用于测试电子元件的恒温恒湿试验装置，包括箱体结构；所述箱体结构上铰接安装有护板结构；所述箱体结构内部开设有内箱结构；所述箱体结构顶部卡接安装有四组干燥结构；护板结构还包括有门板、观测窗，门板上开设有四组观测窗，每组观测窗均采用加厚的钢化玻璃安装，门板内侧面的靠边沿位置设置有密封条，铰接安装的门板为检测设备的主要防护结构，而现有的检测设备的门窗上只设置有一组观测窗，单一的观测窗无法良好的对内部进行观测，将门板上开设四组观测窗，使得门板在关闭之后具有更加良好的观测目的，且观测窗采用加厚的钢化玻璃，使得四组观测窗具有门板应有的强度。 |
