一种用于测试电子元件的高温高湿测试装置
基本信息
| 申请号 | CN202023104984.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214011094U | 公开（公告）日 | 2021-08-20 |
| 申请公布号 | CN214011094U | 申请公布日 | 2021-08-20 |
| 分类号 | G01N25/00（2006.01）I;G01N17/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 乔森 | 申请（专利权）人 | 森诺检测认证技术服务（深圳）有限公司 |
| 代理机构 | 南昌逸辰知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 刘林艳 |
| 地址 | 518000广东省深圳市龙华区大浪街道浪口工业园81号4层401室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供一种用于测试电子元件的高温高湿测试装置，属于电子测试技术领域，以解决现有的高温高湿测试装置一般是在封闭的腔室内进行试验，在使用过程中，反复升温降温需要消耗大量的能量，造成了极大的浪费的问题，包括测试机主体；所述测试机主体的顶部内侧固定连接有一组工件输送驱动件；所述测试机主体的中部转动连接有一组转位旋转轴；所述测试机主体的内部圆周阵列排布滑动连接有四对封闭分隔门。本实用新型通过设置操作、试验腔、缓冲腔，分别实现对电子元器件的装卸、升温、试验、降温等，大大降低了在使用中试验腔中的温度和湿度变化，减少了热量的流失，更加节能，试验速度更快，提高了试验效率。 |
