一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机
基本信息
| 申请号 | CN202023101665.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN214097225U | 公开（公告）日 | 2021-08-31 |
| 申请公布号 | CN214097225U | 申请公布日 | 2021-08-31 |
| 分类号 | G01N25/00（2006.01）I;G05D23/19（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 乔森 | 申请（专利权）人 | 森诺检测认证技术服务（深圳）有限公司 |
| 代理机构 | 南昌逸辰知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 刘林艳 |
| 地址 | 518000广东省深圳市龙华区大浪街道浪口工业园81号4层401室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种用于测试电子元件的冷热冲击试验机，涉及电子元件技术领域。本实用新型包括基板和测试箱，测试箱位于基板上表面，测试箱内部设置有冷测试仓和热测试仓，冷测试仓与热测试仓之间设置有真空层，真空层内部设置有保温板，冷测试仓内表面安装有制冷机构，冷测试仓内部设置有隔冷板，制冷机构输出端安装有导冷管，冷测试仓一侧面设置有若干散冷槽，热测试仓内表面安装有制热机构，热测试仓内部设置有隔热板。本实用新型通过设置冷测试仓、热测试仓、真空层和保温板，使该装置的制冷机构和制热机构温度不受彼此影响，不易出现温度错乱的情况，测试更加准确，具有良好的推广前景。 |
