一种半导体晶圆镀膜技术

基本信息

申请号 CN202020800489.1 申请日 -
公开(公告)号 CN211700194U 公开(公告)日 2020-10-16
申请公布号 CN211700194U 申请公布日 2020-10-16
分类号 H01L21/02(2006.01)I;H01L23/29(2006.01)I 分类 -
发明人 张磊;张松;郭锐 申请(专利权)人 河南省三石精密光学有限公司
代理机构 - 代理人 -
地址 476000河南省商丘市宁陵县小吕集村东头03号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型提供一种半导体晶圆镀膜技术,涉及半导体晶圆技术领域。该半导体晶圆镀膜技术,包括晶圆本体,所述晶圆本体的顶面由下到上依次设有二氧化硅膜、电阻膜、碳膜、ITO镀膜、透光膜、防水膜和抗污膜。该半导体晶圆镀膜技术,通过设置透光膜、防水膜和抗污膜,将透光膜提升晶圆本体的透光率,将防水膜提升晶圆本体的防水性能,将抗污膜提升晶圆本体的抗油污腐蚀污染性能,解决了传统的晶圆在进行二氧化硅镀膜后其外表面硬度低,并且耐脏污性能差,不能满足需求的问题,通过设置固定框,对晶圆本体进行固定,便于晶圆本体进行封装处理,通过设置氧化铟锡,提升电阻率和透光率,通过设置氟化物,提升晶圆本体的抗氧化和抗老化性能。