一种RTK主机的放样控制方法、系统及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202110441807.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113137958A | 公开（公告）日 | 2021-07-20 |
| 申请公布号 | CN113137958A | 申请公布日 | 2021-07-20 |
| 分类号 | G01C15/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 陆春意;伍晓勐;李忠超;刘合丽;杨荣仕;汪剑;黄浩;张佳临;郑永文;韩鹏飞 | 申请（专利权）人 | 上海华测导航技术股份有限公司 |
| 代理机构 | 北京品源专利代理有限公司 | 代理人 | 孟金喆 |
| 地址 | 201702上海市青浦区徐泾镇高泾路599号中国北斗产业园D座3楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明实施例公开了一种RTK主机的放样控制方法、系统及存储介质。其中，方法包括：获取设置在RTK主机底部的摄像头实时采集得到的目标图像；获取对中杆的杆尖在目标图像中的目标图像位置，其中，摄像头配置于对中杆之上；根据目标放样点的实际放置位置，以及摄像头的属性参数，确定目标放样点的理论图像位置；根据目标图像位置，以及理论图像位置，确定与RTK主机匹配的位置调整策略。本发明实施例的方案，解决了需要反复挪动RTK主机，才能完成一次放样操作，作业难度较大且作业效率低的问题，可以实现对RTK主机的精准放样控制，操作简单且效率高。 |
