一种陶瓷电容失效的分析方法
基本信息
| 申请号 | CN201410053562.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN103884952A | 公开（公告）日 | 2014-06-25 |
| 申请公布号 | CN103884952A | 申请公布日 | 2014-06-25 |
| 分类号 | G01R31/02(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 杜海涛 | 申请（专利权）人 | 深圳市易瑞来科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 北京中博世达专利商标代理有限公司 | 代理人 | 深圳市易瑞来科技开发有限公司;深圳市易瑞来科技股份有限公司 |
| 地址 | 518054 广东省深圳市南山区创业路中兴工业城14栋（C栋）8楼809室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明实施例提供了一种陶瓷电容失效的分析方法，属于电子设备中陶瓷电容领域，以能够准确分析出陶瓷电容的内部缺陷，提高分析成功率。所述陶瓷电容失效的分析方法，包括：对待分析的陶瓷电容进行阻值测试，将测得的阻值记为初始阻值，并根据所述初始阻值判断所述待分析的陶瓷电容的失效状态；将所述待分析的陶瓷电容制成金相切片样品，研磨，在研磨过程中对阻值进行实时测试，并将测得的阻值记为测试值；当所述测试值的变化量超过所述初始阻值的10%时，停止研磨，定位观察所述待分析的陶瓷电容的缺陷部位；对所述缺陷部位进行综合分析，确定所述待分析的陶瓷电容的失效原因。本发明可用于陶瓷电容失效的分析中。 |
