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X射线荧光光谱法测定白刚玉中杂质组分含量的方法

基本信息

申请号 CN202110737326.2 申请日 -
公开（公告）号 CN113447330A 公开（公告）日 2021-09-28
申请公布号 CN113447330A 申请公布日 2021-09-28
分类号 G01N1/28（2006.01）I;G01N23/223（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 张蕾;陈宁娜;许超 申请（专利权）人 中冶武汉冶金建筑研究院有限公司
代理机构 湖北武汉永嘉专利代理有限公司 代理人 李艳景
地址 430081湖北省武汉市青山区工业大道3号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种X射线荧光光谱法测定白刚玉中杂质组分含量的方法，步骤包括：样品磨制；样品压制；用PET膜紧密包裹压片；设置各元素最佳测定条件；以白刚玉、棕刚玉和氧化铝标准样品按照不同的比例，配制成各检测元素含量从低到高具有一定梯度的白刚玉标准样品，对其拟合校准曲线，建立了X射线荧光光谱法同时测定白刚玉中SiO2、CaO、Fe2O3、K2O、Na2O、TiO2、P2O3含量的快速分析方法。该方法通过人为配置白刚玉标准样品，使检测范围更接近白刚玉杂质含量范围；同时通过PET膜包裹压片样品，以减少粉尘污染，保护仪器；该方法准确度高，缩短了检测时间，节约了成本，延长了仪器使用寿命，适合批量样品分析。