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芯片测试电路、测试方法及测试装置

基本信息

申请号 CN202111115750.X 申请日 -
公开（公告）号 CN113567841B 公开（公告）日 2022-01-11
申请公布号 CN113567841B 申请公布日 2022-01-11
分类号 G01R31/28（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 魏津;胡雪原;徐润生 申请（专利权）人 绅克半导体科技（苏州）有限公司
代理机构 苏州市中南伟业知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 王广浩
地址 215000江苏省苏州市高新区大同路20号三区2号A5厂房1楼101室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及芯片测试技术领域，公开了一种芯片测试电路，包括：第一数模转换器，用于获取第一参考电压，并通过数码值调节第一输出电压；第二数模转换器，用于获取第二参考电压，并通过数码值调节第二输出电压；电压合成模块，用于将第一输出电压和第二输出电压相加或相减，并输出测试电压；计算模块，用于根据目标测试电压计算目标数码值，并根据目标数码值计算对应的第一数模转换器的数码值和第二数模转换器的数码值，使芯片测试电路的等效数码值与目标数码值相匹配；配置模块，用于以计算好的第一数模转换器的数码值和第二数模转换器的数码值配置第一数模转换器和第二数模转换器。本发明可利用低分辨率数模转换器实现高分辨率。