芯片测试方法、测试机及存储介质
基本信息
| 申请号 | CN202111078131.8 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113514758B | 公开（公告）日 | 2022-02-22 |
| 申请公布号 | CN113514758B | 申请公布日 | 2022-02-22 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I;G01R19/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 魏津;徐润生;鄢书丹 | 申请（专利权）人 | 绅克半导体科技（苏州）有限公司 |
| 代理机构 | 苏州市中南伟业知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 王广浩 |
| 地址 | 215100江苏省苏州市高新区大同路20号三区2号A5厂房1楼101室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及芯片测试技术领域，公开了一种芯片测试方法，该芯片测试方法用于测量被测芯片在低功耗模式下的静态工作电流，测试机包括用于给被测芯片供电的可编程电源，和连接在被测芯片的各个被测管脚上的多个测试通道，该方法包括以下步骤：将被测芯片配置为低功耗模式；配置各个被测管脚对应的各个被测通道为高阻模式；获取此时各个被测管脚在高阻模式下的第一被测电压；于各测试通道中生成一后台驱动电压，后台驱动电压用于抵消对应的第一被测电压；以后台驱动电压配置对应的各测试通道；以配置好的各测试通道对被测芯片进行测量，读取此时被测芯片的静态工作电流。本发明可显著降低各个测试通道的漏电流，进而提高芯片测量的精度。 |
