一种半导体晶圆表面处理装置及处理方法
基本信息
申请号 | CN202110176974.5 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN112894515B | 公开(公告)日 | 2021-12-21 |
申请公布号 | CN112894515B | 申请公布日 | 2021-12-21 |
分类号 | B24B7/22(2006.01)I;B24B55/06(2006.01)I;B24B41/06(2012.01)I;B24B47/12(2006.01)I;H01L21/304(2006.01)I | 分类 | 磨削;抛光; |
发明人 | 不公告发明人 | 申请(专利权)人 | 苏州鼎芯光电科技有限公司 |
代理机构 | 东莞市神州众达专利商标事务所(普通合伙) | 代理人 | 刘汉民 |
地址 | 212511 江苏省苏州市吴江区黎里镇来秀路新黎路113号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明提供了一种半导体晶圆表面处理装置及处理方法,包括底板、驱动装置、固定装置、支撑架、打磨装置和吸附装置;所述的底板上端面中部设置有驱动装置,位于驱动装置的上端均匀设置有固定装置,底板的上端面左侧位置设置有支撑架,支撑架的上端内壁分别设置有打磨装置和吸附装置;本发明可以解决目前的晶圆在加工中由于晶圆较小,晶圆表面加工的过程中容易凹凸不平,从而影响晶圆的加工质量;晶圆固定的过程中不稳定;影响晶圆表面打磨的平整性;晶圆进行打磨加工过程中产生的颗粒物飘飞,影响周围空气质量;以及晶圆打磨多为单个打磨,其打磨加工效率低下严重影响晶圆的加工效率等问题。 |
