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组件缺陷检测质量分级的方法及系统

基本信息

申请号 CN202110762779.0 申请日 -
公开（公告）号 CN113567446B 公开（公告）日 2022-07-19
申请公布号 CN113567446B 申请公布日 2022-07-19
分类号 G01N21/88（2006.01）I;G01N21/01（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 刘聪;李晶;王禹;曲佳佳;何文华;李春喜 申请（专利权）人 北京东方国信科技股份有限公司
代理机构 北京路浩知识产权代理有限公司 代理人 -
地址 100102北京市朝阳区创达三路1号院1号楼东方国信大厦
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供一种组件缺陷检测质量分级方法及系统。其方法包括：系统中的产线系统获取组件在层前阶段、层后阶段以及终检阶段的图片信息；系统中的算法模型对所述图片信息进行质量缺陷和/或外观异常的分析；根据所述分析结果，结合组件的质量判定评级规则，系统中的质量检测平台对组件进行质量判断；若在终检阶段判断存在缺陷，结合系统中复检调整平台对组件的调整结果，在系统中的质量检测平台确定组件的质量分级。本发明通过在终检阶段对组件的图片信息进一步复核调整处理，结合质量判定评级规则，对所述组件进行质量评级，MES系统根据评级结果控制产线系统，实现组件的自动化分级，提高组件质量缺陷及外观异常检测的效率及一致性。