一种穿通结构可控硅芯片的生产方法

基本信息

申请号 CN202010473439.1 申请日 -
公开(公告)号 CN111816553A 公开(公告)日 2020-10-23
申请公布号 CN111816553A 申请公布日 2020-10-23
分类号 H01L21/228(2006.01)I 分类 基本电气元件;
发明人 耿开远 申请(专利权)人 济宁东方芯电子科技有限公司
代理机构 青岛发思特专利商标代理有限公司 代理人 济宁东方芯电子科技有限公司
地址 272100山东省济宁市兖州区兖颜路路北天齐庙村村西
法律状态 -

摘要

摘要 本发明属于半导体芯片技术领域,具体涉及一种穿通结构可控硅芯片的生产方法,包括如下步骤:(1)将硅片氧化处理;(2)将硅片进行光刻,腐蚀成线条,形成穿通环;(3)穿通环的硅片置于化学腐蚀液中腐蚀出沟槽;(4)利用自动涂源台涂布;(5)将涂有硼铝源的硅片置于高温扩散炉中进行硼铝扩散。本发明扩散工艺采用的为硼铝源,硼铝源主杂质是铝,铝扩散速度快,扩散温度要求低。本发明形成穿通结构的可控硅片,整个工艺时间16‑20小时高温扩散,且最高温度比常规最高温度低,时间不到原来的1/10,提高了所制得芯片少子寿命。