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芯片测试主板、芯片测试设备以及芯片测试方法

基本信息

申请号 CN202010795499.5 申请日 -
公开（公告）号 CN114062890A 公开（公告）日 2022-02-18
申请公布号 CN114062890A 申请公布日 2022-02-18
分类号 G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 不公告发明人 申请（专利权）人 杭州旗捷科技有限公司
代理机构 杭州华进联浙知识产权代理有限公司 代理人 储照良
地址 310052浙江省杭州市滨江区滨安路1180号1幢4层421室
法律状态 -

摘要

摘要 本申请涉及一种芯片测试主板、芯片测试设备以及芯片测试方法，其中，芯片测试主板包括：主控制模块、探针接口模块、驱动模块以及测试模块，驱动模块和主控制模块电连接，测试模块设置在主控制模块和探针接口模块之间；驱动模块用于控制送料组件和测试组件在水平方向上的多个测试位置相对静止，使得探针依次和多个测试位置的芯片电接触；测试模块用于接收主控制模块发送的测试信号，通过探针对芯片执行测试，并生成测试结果。本申请解决了打印机耗材芯片在测试过程中承受的机械应力较大且受力不均匀的问题，改善了打印机耗材芯片在测试过程中承受的机械应力大小以及受力均匀度。