一种计量芯片测试装置的通用接口及其实现方法
基本信息
| 申请号 | CN201510634072.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN105182210A | 公开（公告）日 | 2015-12-23 |
| 申请公布号 | CN105182210A | 申请公布日 | 2015-12-23 |
| 分类号 | G01R31/26(2014.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 成达;张蓬鹤;薛阳;郜波;赵越;秦程林;石二微;王雅涛;谭琛;陈盛;曹杰明;赵立涛;张世安;米沛红 | 申请（专利权）人 | 北京电科智芯科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京安博达知识产权代理有限公司 | 代理人 | 徐国文 |
| 地址 | 100192 北京市海淀区清河小营东路15号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种计量芯片测试装置的通用接口及其实现方法，所述通用接口包括：微处理器及其外部电路；所述外部电路包括SPI接口、UART接口、IIC接口、GPIO连接口和以太网接口；所述通用接口一端与SPI、UART、IIC、GPIO接口相连接，另一端与对外的总线插座连接；所述以太网接口与所述微处理器的MAC接口相连接。本发明提供的技术方案将嵌入式产品中常用的数字接口统一设计，使用一组简单的规约，实现了通过规约对多种电气通讯接口的读写控制。 |
