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缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

基本信息

申请号 CN202210123306.0 申请日 -
公开（公告）号 CN114155244A 公开（公告）日 2022-03-08
申请公布号 CN114155244A 申请公布日 2022-03-08
分类号 G06T7/00（2017.01）I;G06N3/04（2006.01）I;G06N3/08（2006.01）I 分类 计算；推算；计数;
发明人 黄耀;胡中慧 申请（专利权）人 北京阿丘科技有限公司
代理机构 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 代理人 冯会
地址 100089北京市海淀区上地东路1号院1号楼6层601A-02号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明属于检测技术领域，公开了一种缺陷检测方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：获取无缺陷图像和目标检测图像；根据预设缺陷样本生成模型对所述无缺陷图像进行缺陷生成，得到仿真缺陷样本；根据所述仿真缺陷样本对所述目标检测图像进行缺陷检测，得到缺陷检测结果。通过上述方式，根据预设缺陷样本生成模型和无缺陷图像进行缺陷生成得到仿真缺陷样本，通过大量仿真缺陷样本图像对缺陷样本图像集进行增广，增大了缺陷样本数量，利用数量增加后的缺陷样本对目标检测图像进行检测识别，提高了小样本缺陷检测时的精度。