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产品表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质

基本信息

申请号 CN202210126936.3 申请日 -
公开（公告）号 CN114170227A 公开（公告）日 2022-03-11
申请公布号 CN114170227A 申请公布日 2022-03-11
分类号 G06T7/00（2017.01）I;G06K9/62（2022.01）I;G06V10/774（2022.01）I 分类 计算；推算；计数;
发明人 黄耀;陈光斌 申请（专利权）人 北京阿丘科技有限公司
代理机构 深圳市世纪恒程知识产权代理事务所 代理人 熊海武
地址 100089北京市海淀区上地东路1号院1号楼6层601A-02号
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种产品表面缺陷检测方法、装置、设备及存储介质，该方法包括：将待检测产品的产品图片输入预设自编码器模型，以使预设自编码器模型输出产品图片的重构图片；通过基于高斯核函数的SSIM算法确定产品图片的像素点与重构图片的对应像素点之间的差异信息，并根据差异信息确定重构图片的差异得分图；根据差异得分图判断待检测产品是否存在表面缺陷。本发明是通过将待检测产品的产品图片输入预设自编码器模型获得重构图片，通过基于高斯核函数的SSIM算法确定的产品图片和重构图片之间的差异得分图，根据差异得分图判断待检测产品是否存在表面缺陷，能够检测出产品表面存在的细小缺陷，提高了产品表面缺陷检测的准确度。