一种多孔结构铜纳米线阵列的制备方法及其薄膜电导率的测试方法

基本信息

申请号 CN201310361520.0 申请日 -
公开(公告)号 CN103510048B 公开(公告)日 2017-03-08
申请公布号 CN103510048B 申请公布日 2017-03-08
分类号 C23C14/14(2006.01)I;C23C14/35(2006.01)I;G01R27/02(2006.01)I 分类 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制〔2〕;
发明人 邓元;曹丽莉;谭明;祝薇;叶慧红;崔长伟 申请(专利权)人 杭州知创新材料技术有限公司
代理机构 南京知识律师事务所 代理人 黄嘉栋
地址 310051 浙江省杭州市滨江区长河街道江虹路768号1号楼第1204室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明提供一种铜纳米线阵列的常温制备方法,它是在磁控溅射仪中,将铜靶材放入磁控溅射仪的真空室中的直流台上;把基板放置于样品台2上;调节样品台2与直流台1的距离至50‑90mm;对真空室抽真空,从而使真空室内的真空度达到2.0×10‑4‑4.0×10‑4Pa;在室温条件下,向真空室中充入氩气,并将氩气压强调节至1.0‑2.0Pa;施加直流电压于紧接靶材的阴极和紧接基板后的阳极间(即直流电压),使电流为80‑120mA,电压为0.25‑0.35kV;沉积1‑7小时,关闭直流电源,原位退火20min,自然冷却至室温25℃后,制得有铜纳米线阵列薄膜的氮化铝、石英或铜基板。本发明中所得到的铜纳米线阵列结构均一,有效的保证了纳米相的均匀分布,整个沉积工艺过程简单,成本低廉,易于规模化生产。