一种去除氮化铝陶瓷电路板中活性金属焊接层的方法
基本信息
申请号 | CN201910270823.9 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN110113881B | 公开(公告)日 | 2022-02-18 |
申请公布号 | CN110113881B | 申请公布日 | 2022-02-18 |
分类号 | H05K3/06(2006.01)I | 分类 | 其他类目不包含的电技术; |
发明人 | 罗小阳;张德库;唐甲林;刘飞;杜山山 | 申请(专利权)人 | 昆山市柳鑫电子有限公司 |
代理机构 | 深圳市君胜知识产权代理事务所(普通合伙) | 代理人 | 王永文;刘文求 |
地址 | 215311江苏省苏州市昆山市巴城镇东荣路28号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明公开一种去除氮化铝陶瓷电路板中活性金属焊接层的方法,其包括步骤:将氮化铝陶瓷电路板中预设非电路位置的铜层蚀刻掉,使氮化铝陶瓷电路板中的活性金属焊接层露出;对所述活性金属焊接层进行激光扫描处理;采用蚀刻液对经过激光扫描处理的活性金属焊接层进行蚀刻处理,去除所述氮化铝陶瓷电路板中预设非电路位置的活性金属焊接层。本发明使用激光配合蚀刻液对活性金属焊接层进行蚀刻,既有效地降低了生产成本,也大大提高了生产效率,更重要的是,所述氮化铝陶瓷电路板中的活性金属焊接层能够彻底被清除,有效避免了氮化铝陶瓷电路板在使用过程中发生短路的问题,使得氮化铝陶瓷电路板能够满足后期放电测试、线间绝缘电压测试的使用要求。 |
