FPGA内部DSP模块的测试方法
基本信息
| 申请号 | CN201811510144.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN109596976B | 公开（公告）日 | 2021-08-27 |
| 申请公布号 | CN109596976B | 申请公布日 | 2021-08-27 |
| 分类号 | G01R31/317;G01R31/3181 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘伟;项宗杰;徐导进 | 申请（专利权）人 | 上海精密计量测试研究所 |
| 代理机构 | 上海航天局专利中心 | 代理人 | 余岢 |
| 地址 | 201109 上海市闵行区元江路3888号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明的FPGA内部DSP模块的测试方法包括：针对测试项目，PC机生成后缀为coe的数据文件并加载到FPGA内部的RAM中；所述后缀为coe的数据文件伪随机数和伪随机数对应的结果；在PC机上完成测试程序编写；测试程序下载至FPGA，由测试程序对FPGA进行配置；从RAM中读取伪随机数作为FPGA内部DSP模块的输入；比对DSP模块的输出与RAM中的伪随机数对应的结果，获得测试结果。本发明的FPGA内部DSP模块的测试方法利用FPGA内部的RAM存放和读取所需要的伪随机数来实现DSP功能全覆盖测试。 |
