K系列FPGA内部CLB模块定位及通用性配置测试方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

K系列FPGA内部CLB模块定位及通用性配置测试方法

基本信息

申请号	CN201811518304.1	申请日	-
公开（公告）号	CN109655740B	公开（公告）日	2021-07-27
申请公布号	CN109655740B	申请公布日	2021-07-27
分类号	G01R31/3185（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	王立恒;项宗杰;徐导进	申请（专利权）人	上海精密计量测试研究所
代理机构	上海航天局专利中心	代理人	余岢
地址	201109上海市闵行区元江路3888号
法律状态	-

摘要

本发明提供K7系列FPGA内部CLB模块定位及通用性配置测试方法，包括：定位FPGA内部所有CLB模块的具体位置；对CLB模块阵列进行左右对等分，每等分中同行CLB模块并行，同列CLB模块串行进行配置，实现CLB资源的全覆盖；对配置的CLB模块阵列进行内建自测试，通过实际输出的数据与预期数据的比较，判断CLB模块阵列是否存在缺陷，若某个CLB模块出现问题，根据输出信号与时钟的对应关系，定位CLB模块出错的具体位置。本发明提供的K7系列FPGA内部CLB模块定位及通用性配置测试方法，实现了所有CLB模块的定位，不用计算“空洞”阵列具体位置，优化了配置程序，实现了最优化的配置次数，配置程序具有通用性，减少了程序重复编写的时间。