一种短波长特征X射线内部残余应力无损测试方法
基本信息
| 申请号 | CN202110441350.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113176285A | 公开（公告）日 | 2021-07-27 |
| 申请公布号 | CN113176285A | 申请公布日 | 2021-07-27 |
| 分类号 | G01N23/207（2006.01）I;G01L5/00（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 郑林;窦世涛;张伦武;张津;车路长;王成章;周堃;何长光;彭正坤;封先河;陈新 | 申请（专利权）人 | 中国兵器装备集团第五九研究所有限公司 |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人 | 王云晓 |
| 地址 | 400039重庆市九龙坡区渝州路33号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种短波长特征X射线内部残余应力无损测试方法，X射线源和探测器分布在样品的两侧，光路为透射式，在测量时，通过转动欧拉环以改变Ψ角，测试不同Ψ角下的衍射角2θ，通过拟合衍射角2θ‑sinΨ值计算得到测试样品内部的残余应力，测试时试样转动平面与探测器转动平面相互垂直。 |
