一种压控晶振频率测试系统及方案
基本信息
| 申请号 | CN202011352732.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112595890A | 公开（公告）日 | 2021-04-02 |
| 申请公布号 | CN112595890A | 申请公布日 | 2021-04-02 |
| 分类号 | G01R23/06(2006.01)I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 唐立 | 申请（专利权）人 | 成都恒晶科技有限公司 |
| 代理机构 | 北京和联顺知识产权代理有限公司 | 代理人 | 公茂海 |
| 地址 | 610000四川省成都市武侯区世纪城南路599号天府软件园7栋2层201号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明一种压控晶振频率测试系统，包括测试板本体，测试板本体上分别设置有待测试压控晶振频率、标志频率源，待测试压控晶振频率、标志频率源通过锁相环进行锁相，锁相环输出符合要求频率及压控范围符合要求的压控晶振，锁相环能正常锁定，否则不能锁定，根据锁相环路输出锁相结果，完成压控晶振测试，测试板上采用多个锁相环，同时进行多路压控晶振测试，本发明可以同时进行多路压控晶振频率测试，可以提供压控晶振测试效率，降低测试成本，提高测试效率。 |
