首页/ 上海陆芯电子科技有限公司/ 专利详情

一种恒温测试系统及测试方法

基本信息

申请号 CN202110152637.2 申请日 -
公开（公告）号 CN112964972A 公开（公告）日 2021-06-15
申请公布号 CN112964972A 申请公布日 2021-06-15
分类号 G01R31/26;G01R31/327 分类 测量；测试;
发明人 曾祥幼;张杰;胡舜涛 申请（专利权）人 上海陆芯电子科技有限公司
代理机构 北京品源专利代理有限公司 代理人 胡彬
地址 201203 上海市浦东新区中国（上海）自由贸易试验区蔡伦路1690号2幢409室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种恒温测试系统及测试方法，其属于半导体开关管测试技术领域，恒温测试系统用于对半导体开关管在恒定温度下进行测试，包括：恒温块，所述恒温块上设置有绝缘导热垫片，所述半导体开关管设于所述绝缘导热垫片上；加热套件，与所述恒温块连接，用于对所述恒温块进行加热；温度传感器，设于所述恒温块上，用于测试所述恒温块的温度；半导体开关管底座，所述半导体开关管与所述半导体开关管底座连接；示波器，所述半导体开关管底座与所述示波器连接。本发明能够对半导体开关管在设定温度下进行准确测试。