一种针对FPGAPLLIP核的测试系统及方法专利查询专利号|摘要-满商公司网

一种针对FPGAPLLIP核的测试系统及方法

基本信息

申请号	CN201911244497.0	申请日	-
公开（公告）号	CN111123083B	公开（公告）日	2022-04-29
申请公布号	CN111123083B	申请公布日	2022-04-29
分类号	G01R31/3177（2006.01）I;G01R31/3185（2006.01）I	分类	测量；测试;
发明人	周芝梅;万勇;冯晨;徐浩;韩圣亚;黄振;王飞	申请（专利权）人	国网思极紫光（青岛）微电子科技有限公司
代理机构	北京安博达知识产权代理有限公司	代理人	徐国文
地址	100031北京市西城区西长安街86号
法律状态	-

摘要

本发明提供了一种针对FPGA PLL IP核的测试系统和方法，包括：待测电路板以及与待测电路板分别连接的信号源和PC机；PC机还与信号源连接；待测FPGA芯片安装于待测电路板上；PC机用于基于预先设定的测试用例触发信号源生成时钟信号；还用于基于测试用例生成测试位流码，并将测试位流码通过待测电路板下载到待测FPGA芯片中；待测电路板用于将待测FPGA芯片基于测试位流码和时钟信号进行运算生成的输出信号传递给PC机；PC机还用于对待测FPGA芯片的输出信号进行分析，完成测试。本发明实现了FPGA芯片中PLL IP核的自动测试，该测试平台可以对没有内建自测试电路的PLL IP核做全面的测试，也可以对有内建自测试电路的PLL IP核做补充测试。