一种触摸屏电极结构性能的分析方法
基本信息
| 申请号 | CN201511030020.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN105653108A | 公开（公告）日 | 2016-06-08 |
| 申请公布号 | CN105653108A | 申请公布日 | 2016-06-08 |
| 分类号 | G06F3/044(2006.01)I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 谢江容;潘风明;刘晶晶;吴政南 | 申请（专利权）人 | 南京点触智能科技有限公司 |
| 代理机构 | 南京苏高专利商标事务所（普通合伙） | 代理人 | 李倩 |
| 地址 | 210000 江苏省南京市江宁经济开发区秣周东路9号A2幢 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种触摸屏电极结构性能的分析方法，该方法采用COMSOL?Multiphysics软件来仿真触摸屏，根据电势分布可以求出任意两电极之间电容，先研究出最小结构单元进而增加求解域引申到触摸屏重复结构中去，最终得到对整个触摸屏的分析。本发明的分析方法一方面建立和测试新模型方便，省时省力；另一方面，便于优化触摸屏结构、改进模型，使模型的灵敏度达到最佳效果；通过探究电极各结构参数尺寸的变化对电极灵敏度的影响，为最终得到最优的电极图形尺寸和提高触摸屏灵敏度具有重大意义。 |
