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一种集测试与分选功能一体化的芯片加工用装置

基本信息

申请号 CN201910738921.0 申请日 -
公开（公告）号 CN110456253B 公开（公告）日 2021-07-27
申请公布号 CN110456253B 申请公布日 2021-07-27
分类号 G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I 分类 测量；测试;
发明人 黄晓波;赵凡奎 申请（专利权）人 安徽龙芯微科技有限公司
代理机构 北京和信华成知识产权代理事务所（普通合伙） 代理人 胡剑辉
地址 243000安徽省马鞍山市郑蒲港新区蒲建标准化厂房3#
法律状态 -

摘要

摘要 本发明公开了一种集测试与分选功能一体化的芯片加工用装置，包括工作台，所述工作台为箱式结构，且在工作台的内部设置有控制箱，所述工作台的台面一侧设置有液晶显示屏和声光报警器，且在工作台的台面中间位置固定架设有测试箱，所述测试箱的左右两侧均开设有供载物板穿过的矩形通道，通过在载物板上设置四个完全一致的芯片放置盘，将待检测的芯片放置在芯片放置盘上，当载物板传送到测试箱的内部时，根据载物板上芯片的位置调整十字测试板的位置，从而使十字测试板每个边角上的检测探针完成对芯片的检测，从而实现一次测试完成对四个芯片的同步检测，提高了芯片的测试效率，通过检测探针自动检测，降低了检测人员的工作强度。