一种用于二硅化钼电热元件的整形检测装置
基本信息
| 申请号 | CN202021812812.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213001919U | 公开（公告）日 | 2021-04-20 |
| 申请公布号 | CN213001919U | 申请公布日 | 2021-04-20 |
| 分类号 | B21D1/00(2006.01)I;B21C51/00(2006.01)I;B21F1/02(2006.01)I;G01B5/25(2006.01)I;B21D3/00(2006.01)I | 分类 | 基本上无切削的金属机械加工；金属冲压; |
| 发明人 | 韩朝军;韩少军 | 申请（专利权）人 | 登封市金钰电热材料有限公司 |
| 代理机构 | 成都市鼎宏恒业知识产权代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 王德伟 |
| 地址 | 450000河南省郑州市登封市东华镇循环工业园区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种用于二硅化钼电热元件的整形检测装置，包括对称设置的底座，底座上设有立杆，两立杆的上端设有第一连接杆，第一连接杆上间隔设有多个第一悬挂件，位于第一连接杆下方的两立杆上设有第二连接杆，第二连接杆上间隔设有多个第二悬挂件，第一悬挂件与第二悬挂件在竖直方向交错设置，位于第一连接杆与第二连接杆之间的两立杆上滑动设有第一校直杆，位于第二连接杆下方的两立杆上设有第二校直杆，第一校直杆与第二校直杆上均滑动设有多个用于校直二硅化钼电热元件的校直件，将二硅化钼电热元件直接悬挂即可整形检测，方便上下料，一次作业即可完成不同规格尺寸的二硅化钼电热元件的整形校直，有利于提高检测效率。 |
