首页/ 重庆同博测控仪器有限公司/ 专利详情

光干涉气体检测装置的光源系统

基本信息

申请号 CN201220254401.6 申请日 -
公开（公告）号 CN202676583U 公开（公告）日 2013-01-16
申请公布号 CN202676583U 申请公布日 2013-01-16
分类号 G01N21/01;F21V5/04 分类 测量；测试;
发明人 张晶;张小平;刘佳 申请（专利权）人 重庆同博测控仪器有限公司
代理机构 北京海虹嘉诚知识产权代理有限公司 代理人 谢殿武
地址 400700 重庆市北碚区冯时行路290号
法律状态 -

摘要

摘要 本实用新型涉及光学技术领域，尤其涉及光干涉气体检测装置的光源系统，目的在提供一种光干涉气体检测装置的光源系统，通过结构上的改进，得到更好的准直效果，有效消除杂光，使光干涉甲烷检测装置得到更加理想的干涉成像条纹即测量精度。本实用新型的光干涉气体检测装置的光源系统，包括光源和准直光路，所述准直光路设置于光源的发射方向上；进一步，所述准直光路沿光线发射方向，依次包括聚光镜和准直镜，所述准直镜设置于聚光镜的焦点外。本实用新型的光源系统为两级透镜组成，可提高成像清晰度，提高检测精度，尤其适合使用面阵式图像传感器的光干涉甲烷检测装置。