平板探测器残影校正方法及其校正装置
基本信息
| 申请号 | CN201711298196.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN108171765B | 公开（公告）日 | 2021-06-18 |
| 申请公布号 | CN108171765B | 申请公布日 | 2021-06-18 |
| 分类号 | G06T11/00;G06T5/00 | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 苏晓芳 | 申请（专利权）人 | 上海奕瑞光电子科技股份有限公司 |
| 代理机构 | 上海光华专利事务所（普通合伙） | 代理人 | 王华英 |
| 地址 | 201201 上海市浦东新区瑞庆路590号9幢2层202室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供一种平板探测器残影校正方法，通过测试数据提取出单帧图像残影衰减系数，利用该系数实时计算出前N张图像残留在当前帧图像里的残影值，并对当前帧图像做实时校正。该方法简洁、不增加硬件成本，不损失有效图像信息；既能够大幅降低残影值，又不会造成校正过量，有效提高成像质量；该残影校正系数能够在任何曝光剂量，任何曝光时长下使用，该系数只与材料本身性质有关，对于同一批次同一材料的X射线平板探测器，该系数均能适用；在后续产品升级或者维护中，并不需要技术人员的现场服务，只需发布优化升级的软件包即可，从而降低人力成本，提高工作效率。 |
