一种集成电路测试设备
基本信息
| 申请号 | CN202122587197.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN216117909U | 公开（公告）日 | 2022-03-22 |
| 申请公布号 | CN216117909U | 申请公布日 | 2022-03-22 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 陈益群;徐刚;袁泉;王泽山 | 申请（专利权）人 | 宁波群芯微电子股份有限公司 |
| 代理机构 | 深圳市宏德雨知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 李捷 |
| 地址 | 315336浙江省宁波市杭州湾新区玉海东路68号23#、24#厂房 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种集成电路测试设备，涉及集成电路技术领域。本实用新型包括底座、调节机构和放置平台，放置平台位于底座的顶部固定连接，调节机构位于放置平台的一侧且与底座固定连接，调节机构包括手柄和调节单元，手柄的底部活动连接调节单元，调节单元包括齿轮和两个齿条，两个齿条分别位于齿轮的两侧啮合。本实用新型通过调节两个齿条相背端之间的距离，从而适应测试点，向下压手柄使套筒跟随其下降，可进行测试多个集成电路，解决了手动改变两引脚的距离，较为麻烦的问题；通过将橡胶块固定在顶板上，防止在测试过程中电路板滑动，解决了直接放置在桌面容易造成电路板磨损的问题。 |
