一种硅基Micro OLED微显示器高精度角度测试方法
基本信息
| 申请号 | CN202110172590.6 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN112985774A | 公开（公告）日 | 2021-06-18 |
| 申请公布号 | CN112985774A | 申请公布日 | 2021-06-18 |
| 分类号 | G01M11/02;G01N21/25;G01B11/26 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 郑培权;黄增兴;林志阳;陈嘉劼;朱一柯;郑明全 | 申请（专利权）人 | 厦门特仪科技有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 361000 福建省厦门市厦门火炬高新区信息光电园金丰大厦809A室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明公开了一种硅基Micro OLED微显示器高精度角度测试方法，包括以下步骤：1）、确定光谱仪的镜头与平台A轴垂直；2）、寻找B轴的机械圆心；3）、设定五轴的机械原点；4）、进行角度拟合；5）、实际产品放置于平台上时的X、Y、Z轴坐标。与现有技术相比，本发明提供的五轴角度测试方法具有成本低、精度高（1～2um级别），可满足小尺寸产品任意角度的测试。 |
