一种基于天线效应的片上指纹电路及其ID产生单元
基本信息
申请号 | CN201610363759.5 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN106096498B | 公开(公告)日 | 2019-03-26 |
申请公布号 | CN106096498B | 申请公布日 | 2019-03-26 |
分类号 | G06K9/00(2006.01)I | 分类 | 计算;推算;计数; |
发明人 | 唐枋; 曾广旺; 李世平; 周喜川; 胡盛东; 甘平; 叶楷; 舒洲; 陈卓; 殷鹏; 王忠杰; 黄莎琳; 李明东 | 申请(专利权)人 | 深圳华视微电子有限公司 |
代理机构 | 深圳市瑞方达知识产权事务所(普通合伙) | 代理人 | 高瑞;张秋红 |
地址 | 518000 广东省深圳市福田区梅林街道梅都社区中康路128号卓越梅林中心广场(北区)4号楼1207 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明涉及了一种基于天线效应的片上指纹电路及其ID产生单元,该ID产生单元包括电阻及分别为N沟道型的第一MOS管、第二MOS管、第三MOS管、第四MOS管和第五MOS管,其中,第一MOS管的栅极及第五MOS管的栅极、源极和漏极均接高电平,第一MOS管的源极、漏极及第二MOS管的漏极分别接第三MOS管的栅极,第二MOS管的栅极和源极接地,第三MOS管的源极接地,第三MOS管的漏极接第四MOS管的漏极,第四MOS管的栅极为该ID产生单元的高电平选中端,第四MOS管的源极连接电阻的一端,电阻的另一端为该ID产生单元的输出端,而且,第一MOS管的栅极和第五MOS管的栅极在芯片生成过程中受天线效应随机地击穿。实施本发明的技术方案,降低了电路的面积。 |
