一种自带肖特基二极管结构的沟槽MOS器件及制造方法
基本信息
申请号 | CN202110556172.7 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113299644A | 公开(公告)日 | 2021-08-24 |
申请公布号 | CN113299644A | 申请公布日 | 2021-08-24 |
分类号 | H01L27/07(2006.01)I | 分类 | 基本电气元件; |
发明人 | 夏华忠;诸建周;李健;黄传伟 | 申请(专利权)人 | 江苏东海半导体股份有限公司 |
代理机构 | 苏州谨和知识产权代理事务所(特殊普通合伙) | 代理人 | 叶栋 |
地址 | 214000江苏省无锡市新吴区硕放街道中通东路88号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明是自带肖特基二极管结构的沟槽MOS器件及制造方法,结构是有P‑wellMOSFET元胞和无P‑well肖特基元胞交错均匀分布。方法:1)准备外延片;2)外延片表面制作沟槽;3)沟槽内生成栅氧;4)沟槽MOSFET元胞区域P‑well光刻注入推进;5)N+source光刻注入推进;6)ILD淀积;7)欧姆接触孔光刻刻蚀;8)欧姆接触金属淀积光刻刻蚀;9)沟槽肖特基元胞区域肖特基接触孔光刻刻蚀;10)形成肖特基势垒;11)肖特基接触金属淀积光刻刻蚀;12)钝化层淀积光刻刻蚀;13)背金减薄。本发明优点:面积利用最大化,解决了欧姆接触和肖特基接触的矛盾;大幅缩短反向恢复时间,提高开关频率。 |
