用于氧化铝镀膜生产的新型X荧光测厚仪
基本信息
申请号 | CN202022168219.6 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN213301135U | 公开(公告)日 | 2021-05-28 |
申请公布号 | CN213301135U | 申请公布日 | 2021-05-28 |
分类号 | G01B15/02(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 周兴 | 申请(专利权)人 | 启东申通电子机械配件有限公司 |
代理机构 | 南京正联知识产权代理有限公司 | 代理人 | 蒯建伟 |
地址 | 226200 江苏省南通市启东市汇龙镇新洪南路99号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型公开了一种用于氧化铝镀膜生产的新型X荧光测厚仪,包括支架,支架设有上横梁与下横梁,上横梁与下横梁之间形成操作腔,上横梁上设有操作台,上横梁台面设有处理器,上横梁与操作台内设有上升降机,上升降机顶部设有X射线接收器,底部连接上升降杆,上升降杆底部设有滤光片,下横梁上设有下升降机,下升降机上连接下升降杆,下升降杆顶部设有滤光片,上下升降杆上的滤光片相对设置,支架上横梁内设有滑槽,滑槽内设有移动座,移动座下通过升缩杆连接上料盘。本实用新型结构设置合理,装置操作方便,使用便捷,上料方便,料材定位方便、准确,提高操作效率。 |
