一种原子层沉积前驱体用量的监测系统及其方法与应用
基本信息
申请号 | CN202110941492.4 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN113862641A | 公开(公告)日 | 2021-12-31 |
申请公布号 | CN113862641A | 申请公布日 | 2021-12-31 |
分类号 | C23C16/455(2006.01)I;C23C16/52(2006.01)I | 分类 | 对金属材料的镀覆;用金属材料对材料的镀覆;表面化学处理;金属材料的扩散处理;真空蒸发法、溅射法、离子注入法或化学气相沉积法的一般镀覆;金属材料腐蚀或积垢的一般抑制〔2〕; |
发明人 | 解明;李煜宇;郭萍梅;万翠翠;钱凡;杨程晟 | 申请(专利权)人 | 柔电(武汉)科技有限公司 |
代理机构 | 北京众达德权知识产权代理有限公司 | 代理人 | 张晓冬 |
地址 | 430056湖北省武汉市沌口经济技术开发区新江大路8号 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本发明属于材料表面包覆技术领域,尤其涉及一种原子层沉积前驱体用量的监测系统及其方法与应用,包括:椭偏仪或X射线反射仪,用于质控体和基体以监控包覆层厚度;气体流量计,用于实时控制气体流量;微分电化学质谱,用于监控尾气成分;所述椭偏仪与原子层沉积反应腔相邻设置;所述质控体与所述基体设于所述原子层沉积反应腔内,进行包覆处理;所述气体流量计设于所述原子层沉积反应腔内壁,所述微分电化学质谱与所述原子层沉积反应腔的尾气系统相连。对反应程度进行实时检测和反应结束状态进行预判,保证了基体和前驱体充分接触反应,实现对反应进程的准确把控,对前驱体用量的精确控制,解决了ALD包覆生产中前驱体用量大和利用率低的问题。 |
