一种散热性芯片检测设备
基本信息
| 申请号 | CN202021787549.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213275858U | 公开（公告）日 | 2021-05-25 |
| 申请公布号 | CN213275858U | 申请公布日 | 2021-05-25 |
| 分类号 | G01R31/26(2014.01)I;G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 刘增红 | 申请（专利权）人 | 镇江矽佳测试技术有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 212001江苏省镇江市高新区南徐大道298号A座高新大厦 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种散热性芯片检测设备，包括工作台，所述工作台的上壁面安装有定位结构，所述定位结构的上壁面安装有夹紧结构，所述工作台的上壁面安装有支撑结构，所述支撑结构的下壁面安装有检测结构，所述定位结构包括：定位板、四个定位块、主板、芯片、充电座以及充电头；本实用新型涉及芯片检测技术领域，本实用新型中，在定位板上安装充电装置，通过更换定位板实现提前让芯片工作，以便于在上一块芯片检测后可以直接检测这一块芯片，解决了现有的散热性芯片检测设备浪费检测时间，降低检测效率的问题。 |
