一种可调节高度的集成电路测试用多功能测试台
基本信息
申请号 | CN202021787585.3 | 申请日 | - |
公开(公告)号 | CN213986718U | 公开(公告)日 | 2021-08-17 |
申请公布号 | CN213986718U | 申请公布日 | 2021-08-17 |
分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分类 | 测量;测试; |
发明人 | 刘增红 | 申请(专利权)人 | 镇江矽佳测试技术有限公司 |
代理机构 | - | 代理人 | - |
地址 | 212001江苏省镇江市高新区南徐大道298号A座高新大厦 | ||
法律状态 | - |
摘要
摘要 | 本实用新型公开了一种可调节高度的集成电路测试用多功能测试台,包括测试台主体以及输送机,所述输送机设置于测试台主体一侧,所述测试台主体上设置有调高式取料结构,调高式取料结构下方设置有废料回收结构,本实用新型涉及集成电路检测技术领域,对现有的测试台主体进行改进,在测试台主体一侧设置有输送机,用于输送待测试集成电路板,测试台主体上设置有调高式取料结构,通过调高式取料结构将输送机上的待测试集成电路板抓取到测试台主体上,对集成电路板进行检测,若检测结果为合格,将集成电路板重新放回至输送机上,进行下一项作业,若检测结果为不合格,则通过废料回收结构对不合格的产品进行回收,结构简单,可靠性高。 |
