一种集成电路测试用多功能测试台
基本信息
| 申请号 | CN202021758402.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213275856U | 公开（公告）日 | 2021-05-25 |
| 申请公布号 | CN213275856U | 申请公布日 | 2021-05-25 |
| 分类号 | G01R31/28(2006.01)I;G01R1/04(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 刘增红 | 申请（专利权）人 | 镇江矽佳测试技术有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 212001江苏省镇江市高新区南徐大道298号A座高新大厦 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种集成电路测试用多功能测试台，包括底座，所述底座上设有收缩测试结构；所述收缩测试结构包括：收缩箱体、剪叉升降台、四个滑轨、测试箱体、测试组件、箱体盖、铰座以及支撑腿，本实用新型涉及集成电路测试技术领域，本案采用的收缩测试结构，通过内置的剪叉升降台可实现对测试箱体的高度调节的目的，且在不进行测试时，还具有收纳功能，减少占用空间，通过内置的测试组件，可将测试板以及测试插孔收纳进测试箱体内，在不使用时可有效地保护测试插孔不受到破坏，从而有效的解决了现有的测试台不具有高度调节功能，对于身高不同的测试人员来说，使用也不方便，影响使用效率的技术问题。 |
