一种半导体晶片探针测试设备
基本信息
| 申请号 | CN202021751083.5 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213275855U | 公开（公告）日 | 2021-05-25 |
| 申请公布号 | CN213275855U | 申请公布日 | 2021-05-25 |
| 分类号 | G01R31/26(2014.01)I;G01R31/28(2006.01)I;G01R1/067(2006.01)I | 分类 | - |
| 发明人 | 常浩 | 申请（专利权）人 | 镇江矽佳测试技术有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 212001江苏省镇江市高新区南徐大道298号A座高新大厦 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了一种半导体晶片探针测试设备，包括底座，所述底座上端安装有升降结构,所述底座上端安装有夹紧检测结构；其中，升降结构包含有：动力室、液压泵、液压杆、辅助滑道、第一滑块、升降台、电动滑道、第二滑块、电动推杆以及探针，本实用新型涉及半导体检测技术领域，本案的有益效果为：解决了现有设备中由于产品的待测试点距离测试设备的高度不一，所以要准备不同长度的探针以满足不同的测试要求，并且放置板的高度固定，不能根据需求进行调整，适应能力较差；而且在测试过程中需要进行固定，人工固定比较麻烦，会带来较大的不便，而且过程比较繁琐，具有不利于长期的高效的进行使用等问题。 |
