老化设备
基本信息
| 申请号 | CN202110866812.4 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN113466599A | 公开（公告）日 | 2021-10-01 |
| 申请公布号 | CN113466599A | 申请公布日 | 2021-10-01 |
| 分类号 | G01R31/00（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 刘汛;杨谦;张锐锋;林新强 | 申请（专利权）人 | 深圳市禹龙通电子股份有限公司 |
| 代理机构 | 深圳冀深知识产权代理有限公司 | 代理人 | 张玺 |
| 地址 | 518000广东省深圳市南山区蛇口赤湾少帝路1号赤湾工业园D栋四楼 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明提供了一种老化设备，属于电子产品测试技术领域，包括老化架和多个测试单元，老化架设有多个测试分区；多个测试单元一一对应分设于各测试分区；每个测试单元包括多个测试模块，每个测试模块均包括独立的散热机构、用于放置测试产品的支撑体以及用于固定测试产品的固定机构；散热机构固定于老化架上，支撑体设置于散热机构上，固定机构可拆卸式固定在老化架或散热机构上。本实施例提供的老化设备，通过测试分区及独立的测试单元，能够同时一次测试多种不同的测试产品，并能够单独的对各测试产品进行散热，互不影响，大大提高老化设备的通用性；并能够解决散热效果差的问题，提高测试数据的准确性。 |
