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批量测试发光二极管寿命的电路系统及其测试方法

基本信息

申请号	CN201210548992.2	申请日	-
公开（公告）号	CN103048603A	公开（公告）日	2013-04-17
申请公布号	CN103048603A	申请公布日	2013-04-17
分类号	G01R31/26(2006.01)I	分类	测量；测试;
发明人	罗建国;王剑斌;王磊;吴为敬;彭俊彪	申请（专利权）人	广州晶合测控技术有限责任公司
代理机构	广州市华学知识产权代理有限公司	代理人	华南理工大学;广州晶合测控技术有限责任公司
地址	510640 广东省广州市天河区五山路381号
法律状态	-

摘要

本发明公开了一种批量测试发光二极管寿命的电路系统及其测试方法，所述电路系统包括计算机、数字输出模块、若干个测试单元、地址解析模块和信号复用模块、数字电压表；所述计算机与数字输出模块连接；所述数字输出模块的控制信号输出端与测试单元连接，地址信号输出端分别与地址解析模块和信号复用模块连接；所述地址解析模块通过信号总线与测试单元连接；所述信号复用模块的使能端、输入端和输出端分别与地址解析模块、测试单元和数字电压表连接；所述数字电压表与计算机连接。本发明的电路系统结构合理、成本较低，通过若干个测试单元可对大批量的有机或者无机发光二极管的寿命进行测试工作，且具有测试速度快、精度高和以及良好可靠性的优点。