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一种用于CMOS传感器的测试方法

基本信息

申请号 CN201710196074.0 申请日 -
公开（公告）号 CN106993184A 公开（公告）日 2021-06-22
申请公布号 CN106993184A 申请公布日 2021-06-22
分类号 H04N17/00 分类 电通信技术;
发明人 不公告发明人 申请（专利权）人 国芯微（重庆）科技有限公司
代理机构 苏州润桐嘉业知识产权代理有限公司 代理人 胡思棉
地址 215634 江苏省苏州市张家港市杨舍镇塘市新泾中路10-1号5室
法律状态 -

摘要

摘要 本发明涉及一种用于CMOS传感器的测试方法，主要解决现有技术中存在的测试功能少、测试芯片数量少的技术问题，本发明通过采用包括平行光灯箱；数量为N的无镜头CMOS传感器，无镜头CMOS传感器测试时与所述平行光位置对应；与无镜头CMOS传感器连接的测试板，测试板包括用于采集信号数据的图像传感器；无镜头CMOS传感器及测试板均固定于测试板固定板，所述测试板固定板固定连接于升降台；所述测试板通过USB2.0均与控制单元连接，所述控制单元还与升降台连接，所述控制单元通过USB电缆及串口与上位机连接的技术方案，较好的解决了该问题，可用于CMOS传感器性能测试中。