一种芯片老练测试的监控系统
基本信息
| 申请号 | CN202121042687.7 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN215575498U | 公开（公告）日 | 2022-01-18 |
| 申请公布号 | CN215575498U | 申请公布日 | 2022-01-18 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I;G08B21/18（2006.01）I;G08B25/08（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 侯文硕;蒋厚涛 | 申请（专利权）人 | 国芯微（重庆）科技有限公司 |
| 代理机构 | 重庆中之信知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 邓锋 |
| 地址 | 400030重庆市沙坪坝区西永大道28号-2号SOHO楼601-A84 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型提供一种芯片老练测试的监控系统，包括高温装置，用于给芯片提供高温环境；电源装置，用于给芯片供电；第一采集装置，与电源装置连接并用于采集电源装置的实时供电数据；第一报警装置，与第一采集装置连接并用于根据实时供电数据进行现场报警；第一报警装置包括互连的损坏判断模块和第一报警输出模块，损坏判断模块用于根据实时供电数据来判断芯片的损坏类型，第一报警输出模块用于根据损坏类型进行对应的现场报警。能够自动化的采集实时供电数据，根据芯片损坏类型来实现对应的报警，使得工程师不需要每隔一段时间就去查看，当出现损坏时就能够自动给工程师提示，并且还能通过提示知晓芯片损坏的类型，省时省力，极大的提高效率。 |
