一种用于CMOS传感器的测试方法
基本信息
| 申请号 | CN201710196074.0 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN106993184B | 公开（公告）日 | 2021-06-22 |
| 申请公布号 | CN106993184B | 申请公布日 | 2021-06-22 |
| 分类号 | H04N17/00 | 分类 | 电通信技术; |
| 发明人 | 不公告发明人 | 申请（专利权）人 | 国芯微（重庆）科技有限公司 |
| 代理机构 | 重庆中之信知识产权代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 张景根 |
| 地址 | 400030 重庆市沙坪坝区西永大道28号-2号SOHO楼601-A84 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及一种用于CMOS传感器的测试方法，主要解决现有技术中存在的测试功能少、测试芯片数量少的技术问题，本发明通过采用包括平行光灯箱；数量为N的无镜头CMOS传感器，无镜头CMOS传感器测试时与所述平行光位置对应；与无镜头CMOS传感器连接的测试板，测试板包括用于采集信号数据的图像传感器；无镜头CMOS传感器及测试板均固定于测试板固定板，所述测试板固定板固定连接于升降台；所述测试板通过USB2.0均与控制单元连接，所述控制单元还与升降台连接，所述控制单元通过USB电缆及串口与上位机连接的技术方案，较好的解决了该问题，可用于CMOS传感器性能测试中。 |
