通用性的芯片测试夹具
基本信息
| 申请号 | CN202023184381.3 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN213750213U | 公开（公告）日 | 2021-07-20 |
| 申请公布号 | CN213750213U | 申请公布日 | 2021-07-20 |
| 分类号 | G01R31/28（2006.01）I;G01R1/04（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 杨启帆 | 申请（专利权）人 | 成都博芯联科科技有限公司 |
| 代理机构 | 成都瑞创华盛知识产权代理事务所（特殊普通合伙） | 代理人 | 邓瑞;张敏 |
| 地址 | 610000四川省成都市中国（四川）自由贸易试验区成都高新区益州大道中段1800号1栋1904号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开了通用性的芯片测试夹具，包括框架、底板和芯片，所述框架底部安装有底板，所述底板中心设有芯片，所述芯片两侧焊接有连接键。本实用新型中，底板上靠近芯片两侧设有滑槽，滑槽上安装有滑动连接的滑块，滑块顶部安装有支撑板，支撑板一端设有贯穿转动连接的框架，支撑板另一端转动连接有L形的夹板一，支撑板顶部安装有通过夹板一和转动杆转动连接的移动板，框架靠近移动板设有限位槽，支撑板上设有通过滑杆滑动的限位板一，移动板一端安装有贯穿转动连接限位板一的螺栓一，从而转动螺栓一和螺栓二使支撑板和移动板进行移动，进而使夹板一和夹板二对芯片进行夹持，方便对不同芯片进行夹持。 |
