集成电路版图的静电保护结构的提取和智能设计验证方法
基本信息
| 申请号 | CN201611263206.9 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN106682331A | 公开（公告）日 | 2017-05-17 |
| 申请公布号 | CN106682331A | 申请公布日 | 2017-05-17 |
| 分类号 | G06F17/50(2006.01)I | 分类 | 计算；推算；计数; |
| 发明人 | 王自惠;李大光 | 申请（专利权）人 | 北京厚德微电技术有限公司 |
| 代理机构 | 北京集佳知识产权代理有限公司 | 代理人 | 王宝筠 |
| 地址 | 100097 北京市海淀区远大路39号青清商务1号楼610室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明所提供的一种集成电路版图的静电保护结构的提取和智能设计验证方法，通过预先定义静电保护结构，生成静电保护结构定义文件，然后获取集成电路版图中，所述阳极正端子和所述阴极负端子中至少一个端子与焊盘相连的基础静电保护器件为待提取的静电保护结构。可见，本发明将静电保护结构提取从基础静电保护器件扩展到复杂静电保护结构，进而提高了从集成电路版图提取静电保护结构的效率，并实现芯片级智能设计检测。 |
