一种集成电路芯片测试接口板
基本信息

| 申请号 | CN201721352610.3 | 申请日 | - |
| 公开(公告)号 | CN207352123U | 公开(公告)日 | 2018-05-11 |
| 申请公布号 | CN207352123U | 申请公布日 | 2018-05-11 |
| 分类号 | G01R31/28;G01R1/04 | 分类 | 测量;测试; |
| 发明人 | 许亚阳 | 申请(专利权)人 | 南京晶达微电子科技有限公司 |
| 代理机构 | - | 代理人 | - |
| 地址 | 362100 福建省泉州市惠安县开发南路东堡107号 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要

| 摘要 | 本实用新型公开了一种集成电路芯片测试接口板,其结构包括电源开关、蜂鸣器、电阻器、电容器、微调电位器、电路板、测试接口板、数码管,电源开关下表面与电路板上表面相焊接,蜂鸣器与电路板电连接,电路板设有电阻器,电容器安装于电路板上表面,测试接口板下表面贴合于电路板上表面,测试接口板包括扩展接口、JTAG接口、AS接口、电源指示灯、电源接口、USB模块插槽、次扩展接口、LED灯、测试接口电路板,本实用新型一种集成电路芯片测试接口板,在结构上设置了测试接口板,通过电源接口接通电源,将测试接口板上的各种接口连接不同的集成电路芯片,通过处理器测试集成电路芯片,使处理各种集成电路芯片的速率更加快捷和方便。 |





