硒化铅红外探测器校准方法
基本信息
| 申请号 | CN201610408944.1 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN106124055B | 公开（公告）日 | 2018-12-18 |
| 申请公布号 | CN106124055B | 申请公布日 | 2018-12-18 |
| 分类号 | G01J5/00 | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 林永贤;马国栋 | 申请（专利权）人 | 宝鸡国栋通茂高科技开发股份有限公司 |
| 代理机构 | 北京汇信合知识产权代理有限公司 | 代理人 | 陈圣清 |
| 地址 | 722300 陕西省宝鸡市眉县霸王河工业园区 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本发明涉及探测器领域，具体涉及硒化铅红外探测器校准方法。本方法通过多次采用高强光照射硒化铅红外探测器的焦平面，采集探测单元的饱和电阻Rs，计算其平均值记为第一校正参数C。多次将焦平面对准标准黑体，采集探测单元的黑暗电阻Rd，计算其平均值得到第二校正参数A，A为黑暗电阻平均值和第一校正参数的差。将光照强度为Sm的光照射焦平面，采集探测单元的电阻Rm，并计算第三校正参数B，B＝‑Log[(Rm–C)/A]/Sm。得到参数A、B、C，即可通过校正函数R＝A*Exp(‑B*S)+C对硒化铅红外探测器进行校正。该方法解决现阶段对硒化铅探测器进行校正过程中浪费大量的时间和金钱导致成本和材料增加的问题。 |
