一种半导体双面同时检测的机构
基本信息
| 申请号 | CN202122156596.2 | 申请日 | - |
| 公开（公告）号 | CN215727740U | 公开（公告）日 | 2022-02-01 |
| 申请公布号 | CN215727740U | 申请公布日 | 2022-02-01 |
| 分类号 | G01N21/84（2006.01）I;G01N21/01（2006.01）I | 分类 | 测量；测试; |
| 发明人 | 忻超 | 申请（专利权）人 | 宁波轻蜓视觉科技有限公司 |
| 代理机构 | 无锡市汇诚永信专利代理事务所（普通合伙） | 代理人 | 王旭超 |
| 地址 | 315100浙江省宁波市鄞州区学士路655号科信大厦A楼702室 | ||
| 法律状态 | - | ||
摘要
| 摘要 | 本实用新型公开一种半导体双面同时检测的机构，包括两根平行的第一基板移动轨道和第二基板移动轨道，第一基板移动轨道和第二基板移动轨道的滑块上形成半导体放置位，还包括分设于半导体放置为上方、下方的上检测机构和下检测机构，第一基板移动轨道和第二基板移动轨道之间形成检测位；在使用的时候，将半导体产品搁置在第一基板移动轨道和第二基板移动轨道的滑块上，即第一基板移动轨道的滑块上放置半导体产品的第一端，第二基板移动轨道的滑块上放置半导体产品的第二端，当第一、第二基板移动滑轨上的滑块移动的时候，依次或同时经过上检测机构、下检测机构，上、下检测相机进行对于半导体产品的检测，一次性完成双面检测。 |
